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二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場發射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續可調電壓精準適配各類樣品，配合E×B技術實現SE/BSE信號自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。
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二手日立 SU-8230 冷場超高分辨掃描電鏡主要功能及應用范圍：微區形貌、微區成分分析。可以觀察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。
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Hitachi 二手SU5000熱場式場發射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉，影像依然保持居中和聚焦。
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Hitachi 二手 SU-5000場發射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學系統，具備2.0 nm的二次電子分辨率和強大的低加速電壓成像能力（低至100 V），支持高效微區分析及材料研究。其“EM Wizard”界面簡化了操作流程，提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換，并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等，適用于廣泛的科研領域。
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二手 日立 SU-5000 熱場發射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉，影像依然保持居中和聚焦。
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二手 蔡司 sigma300 場發射電鏡分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。 Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
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二手 日本電子 IT-500掃描電鏡是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡
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二手 日立 SU8020 高分辨冷場發射電鏡具有的功能，適用于各種固態樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感的樣品表面超微形貌結構信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學組分綜合分析能力。
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SU-8010 日立 二手冷場發射電鏡二次電子像、反射電子像進行觀察及圖像處理。可對金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時進行樣品表層的微區點、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學組分綜合分析能力。
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